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多チャンネル試験装置

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中国 18V 1A 4チャネルサブカード パルス源測定ユニット CBI403 SMU 測定 販売のため

18V 1A 4チャネルサブカード パルス源測定ユニット CBI403 SMU 測定

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:18V 1A Four Channel Source Measure, Sub Card Pulse Source Measure Unit, CBI403 SMU Measurement
18V 1A Four Channel Sub Card Pulse Source Measure Unit CBI403 SMU Measurement The CBI401 modular subcard is a member of the CS Series Source Measure Unit (SMU) family, designed for high-precision, high-dynamic-range electrical characterization. Its modular architecture allows flexible integration wi... もっと見る
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中国 10V 1A PXI SMU 4チャネルサブカード パルス SMU ソース測定ユニット CBI402 販売のため

10V 1A PXI SMU 4チャネルサブカード パルス SMU ソース測定ユニット CBI402

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:10V 1A PXI SMU, 4 Channel Sub Card PXI SMU, PXI Sub Card Pulse SMU Unit
10V 1A PXI SMU 4 Channel Sub Card Pulse SMU Source Measure Unit CBI402 The CBI402 modular subcard is a high-density, multi-channel Source Measure Unit (SMU) engineered for high-efficiency and precision testing scenarios. Featuring a card-based architecture with 4 independent channels per subcard and... もっと見る
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中国 10V 500mA PXI ソース測定ユニット サブカード パルス PXI SMU ユニット CBI401 販売のため

10V 500mA PXI ソース測定ユニット サブカード パルス PXI SMU ユニット CBI401

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:10V 500mA PXI Source Measure Unit, Sub Card Pulse PXI SMU, Pulse PXI SMU Unit
10V 500mA PXI Source Measure Unit Sub Card Pulse PXI SMU Unit CBI401 The CBI401 modular subcard is a core component of the CS Series precision digital Source-Measure Units (SMUs), designed for medium-to-low power multi-channel electrical characterization. Featuring a single-card quad-channel common-... もっと見る
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中国 18V 1A PXI SMU 4チャネルサブカード DCソースメーターユニット CS402 販売のため

18V 1A PXI SMU 4チャネルサブカード DCソースメーターユニット CS402

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:18V 1A PXI SMU, Sub Card DC Source Meter, Four Channel PXI SMU
18V 1A PXI SMU Four Channel Sub Card DC Source Meter Unit CS402 The CS402 is a modular SMU solution designed for high-volume device testing, featuring an innovative common-ground architecture with 4 channels integrated per subcard. When paired with the CS1010C host system, it enables synchronized co... もっと見る
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中国 4チャネル 国計 SMU 10V 500mA サブカード DC ソース 測定 CS401 販売のため

4チャネル 国計 SMU 10V 500mA サブカード DC ソース 測定 CS401

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:4 Channels National Instruments SMU, National Instruments SMU 10V 500mA, Sub Card DC Source Measure
10V/500mA Four-channel Sub Card DC Source Measure Unit CS401 The CS400 is a modular SMU solution engineered for high-volume device testing, featuring an innovative common-ground architecture with 4 channels per subcard. When integrated with the CS1010C host system, it achieves synchronized control o... もっと見る
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中国 サブカード PXI SMU ユニット 10V 200mA パラレル環境での高出力試験 販売のため

サブカード PXI SMU ユニット 10V 200mA パラレル環境での高出力試験

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:Sub Card PXI SMU Unit, PXI SMU Unit 10V 200mA, 10V 200mA PXI SMU
Sub Card PXI SMU Unit 10V 200mA For High Throughput Testing In Parallel Environments The CS400 modular subcard is a high-density, multi-channel Source Measure Unit (SMU) engineered for high-throughput parallel testing applications. Featuring a card-based architecture, each module integrates four ind... もっと見る
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中国 300V 1A モジュラルのSMUユニット シングルチャネルサブカード DCソース測定ユニット CS300 販売のため

300V 1A モジュラルのSMUユニット シングルチャネルサブカード DCソース測定ユニット CS300

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:300V 1A Modular SMU Unit, Single Channel Modular SMU Unit, Sub Card DC Source Measurement Unit
300V 1A Modular SMU Unit Single Channel Sub Card DC Source Measurement Unit CS300 The CS300 modular subcard is a core member of the CS Series high-precision Source-Measure Units (SMUs), engineered for high-voltage, high-accuracy electrical characterization. As a single-channel SMU module, it integra... もっと見る
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中国 100V 1A PXI ソース測定ユニット シングルチャネルサブカード DC SMU ユニット CS200 販売のため

100V 1A PXI ソース測定ユニット シングルチャネルサブカード DC SMU ユニット CS200

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:100V 1A PXI Source Measure Unit , Single Channel PXI Source Measure Unit, Sub Card DC SMU Unit
100V 1A PXI Source Measure Unit Single Channel Sub Card DC SMU Unit CS200 The CS200 modular subcard is a high-precision, single-channel digital Source-Measure Unit (SMU) designed for multi-slot modular host systems. As a core component of the CS Series, this subcard integrates voltage/current sourci... もっと見る
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中国 シングルチャネル PXI SMU 30V 1A サブカード DCソース測定ユニット CS100 販売のため

シングルチャネル PXI SMU 30V 1A サブカード DCソース測定ユニット CS100

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:Single Channel PXI SMU, PXI SMU 30V 1A, 30V 1A DC Source Measurement Unit
Single Channel PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100 The CS100 modular subcard is a high-performance testing module designed for integration with modular chassis systems. Delivering exceptional precision and versatility, it provides efficient solutions for complex testing scenario... もっと見る
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中国 1010C 半導体と材料の特性検査のための多チャンネルSMUユニット 販売のため

1010C 半導体と材料の特性検査のための多チャンネルSMUユニット

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:1010C National Instruments SMU, National Instruments SMU Unit, Semiconductor National Instruments SMU
1010C Multi Channel SMU Unit For Test Semiconductor And Material Characterization The 1010C modular chassis integrates cutting-edge technology with innovative engineering, delivering a high-performance testing solution tailored for diverse demands in modern R&D and industrial applications. This ... もっと見る
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中国 3 スロット サブカードプラグ イン SMU ユニット 1003C ソース測定ユニット 販売のため

3 スロット サブカードプラグ イン SMU ユニット 1003C ソース測定ユニット

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:Sub Card Plug In SMU Unit, 3 Slots SMU Unit, 1003C Source Measurement Unit
3 Slots Sub Card Plug In SMU Unit 1003C Source Measurement Unit The 1003C modular chassis is a professional-grade testing solution engineered for high-performance applications. Combining modular scalability with industrial-grade reliability, it serves as a critical testing infrastructure in scientif... もっと見る
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