源の測定の単位

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中国 半導体の電気特性試験 SMUユニット S100 DC 30V 1A SMU測定 販売のため

半導体の電気特性試験 SMUユニット S100 DC 30V 1A SMU測定

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:半導体の電気特性試験SMUユニット, DC S100 SMU ユニット, S100 30V 1A SMU 測定
半導体の電気特性試験 SMUユニット S100 DC 30V 1A SMU測定  S100 ソース測定装置は 精巧に PRECISE INSTRUMENT が設計したもので 国産の試験機器の代表です外国技術による長年の独占を壊し,高精度で前例のないテスト体験を提供しますこの汎用的なユニットは複数の機能を統合し,様々な電気特性試験タスクを容易に処理します. 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因精度測定保証:S100の高精度測定能力は 厳格な品質のゲートキーパーとして機能します最小の誤りでも記録することで,信頼性と精度を保証する.▪ 病気 の 原因オールインワン機能:複数のテストモードを組み合わせると... もっと見る
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中国 HCP200 高電流SMU パルス源測定単位 太陽電池モジュール 販売のため

HCP200 高電流SMU パルス源測定単位 太陽電池モジュール

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:高電流SMU測定, HCP200 SMU 測定, 50A パルス源測定単位
HCP200 高電流SMU パルス源測定単位 太陽電池モジュール HCP200 高電流デスクトップパルスソース測定装置は,最大パルス出力電流50Aと最大出力電圧50Vで,DCとパルス出力をサポートします.輸出と測定精度が0まで.1% 太陽電池モジュールとRF装置の試験に適しています   製品の特徴 ▪ 病気 の 原因250k サンプリングレートと 50A パルス範囲は,太陽電池モジュールとRFデバイスのテストに特に適しています. ▪ 病気 の 原因I,V,R の半導体の電気性能パラメータをテストするために使用できます. これは普遍的で標準化された機器です. ▪ 病気 の 原因標準的なSCPI命... もっと見る
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中国 高電流パルス源測定装置 HCP100 Max 30A 50V 源メーター装置 販売のため

高電流パルス源測定装置 HCP100 Max 30A 50V 源メーター装置

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:高電流パルス源測定単位, ソース測定単位 HCP100, 30A 50V ソースモニターユニット
高電流パルス源測定装置 HCP100 Max 30A 50V 源メーター装置 HCP100 高電流デスクトップパルスソース測定装置は,DCとパルス出力機能を有し,最大パルス出力電流は30A,最大出力電圧は50V.輸出と測定精度が0まで電力MOS試験,シュトキー二極管試験,直線橋スタック試験,太陽電池モジュール試験に広く使用できる. 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因汎用性,標準化機器,幅広いテスト範囲,I-Vスキャン,半導体電気性能テストソリューションを簡単に構築し,弱い電流信号の正確な測定 ▪ 病気 の 原因半導体の電気性能パラメータをテストするために使用できる:I,V,R ▪ 病気 の 原因... もっと見る
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中国 300V 4A 30A パルス SMU ユニット P300B 半導体と材料のソース測定 販売のため

300V 4A 30A パルス SMU ユニット P300B 半導体と材料のソース測定

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:300V 4A 30A パルスSMU, P300B 源の測定, 半導体と材料 SMUユニット
300V 4A 30A パルス SMU ユニット P300B 半導体と材料のソース測定 P300Bベンチトップパルスソースメーターはハイブリッド信号処理技術を統合し,高精度のアナログフロントエンドとインテリジェントデジタル処理ユニットを組み合わせています.5インチタッチスクリーンは直感的な制御ハブとリアルタイムデータビジュアライゼーションポータルの両方で機能します試験の進行と結果をグラフィカルインターフェイスで監視できる. 最大出力300Vと30Aのパルス電流で, the P300B supports four-quadrant operation to simulate complex el... もっと見る
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中国 半導体試験 パルス SMU 源測定装置 P200B 100V 4A 30A 販売のため

半導体試験 パルス SMU 源測定装置 P200B 100V 4A 30A

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:半導体試験パルスSMUユニット, P200B 源量単位, 100V 4A 30A SMU ユニット
半導体試験 パルス SMU 源測定装置 P200B 100V 4A 30A P200Bベンチトップパルスソースメーターは,ユーザー中心の高性能試験機器で,5インチタッチスクリーンと直感的なグラフィックインターフェースを備えています.最大出力100Vと30Aのパルス電流低電源センサー,高電圧電源モジュール,半導体,ナノ材料,印刷電子機器のテストに優れています 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因簡単な操作:5インチタッチスクリーンで ガイド付きのチュートリアルで 初心者でも簡単にセットアップできます ▪ 病気 の 原因ダイナミック範囲を広げる1pA?? 30A (パルスモード), 1pA?? 4A ... もっと見る
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中国 30V 4A 30A パルス源測定装置 P100B 半導体装置用ソースメーター 販売のため

30V 4A 30A パルス源測定装置 P100B 半導体装置用ソースメーター

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:30V パルス源測定単位, P100B ソースメーター, 4A 30A パルス源測定単位
30V 4A 30A パルス源測定装置 P100B 半導体装置用ソースメーター    P100Bベンチトップパルスソースメーターは デジタル信号処理,インテリジェント制御,人と機械の相互作用技術高精度測定,大きなダイナミックレンジ出力,そしてユーザーフレンドリーなデジタルタッチ操作を組み合わせます. 5インチタッチスクリーンインターフェースはスマートフォンと同じくらい直感的です.P100Bは最大出力電圧30Vとパルス電流30Aを供給する小さい電子部品や高性能デバイスのテストに関わらず,P100Bは,現代の半導体,ナノ材料,有機電子機器印刷電子機器 その他の低電力小規模機器 製品の特徴  先端... もっと見る
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中国 パルスソースメーター P300 300V 1A 10A ソース測定装置 半導体試験 販売のため

パルスソースメーター P300 300V 1A 10A ソース測定装置 半導体試験

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:パルス源計 P300, 1A 10A 源量単位, 300Vの半導体試験源計
パルスソースメーター P300 300V 1A 10A ソース測定装置 半導体試験 P300ベンチトップパルスソースメーターは,高度な電子アーキテクチャとアルゴリズムを組み合わせて高精度測定と幅広い動的範囲の出力を提供しています.完全グラフィックインターフェースの5インチタッチスクリーン300Vと10Aの最大出力で 4つの四角関数操作とともにP300は,前向きの電源から逆エネルギー回収までの複雑な電気条件を正確にシミュレートしますこれは,現代的な半導体,ナノ材料,有機電子,印刷電子,その他の低電力小規模デバイスの特徴付けに不可欠です. 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因卓越した精度とダイナミック... もっと見る
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中国 半導体 源測定装置 100V 1A 10A パルス源計装置 P200 販売のため

半導体 源測定装置 100V 1A 10A パルス源計装置 P200

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:半導体源測定単位, 100V ソース測定装置, パルス源計 P200
半導体 源測定装置 100V 1A 10A パルス源計装置 P200 P200ベンチトップパルスソースメーターは,精度測定,幅広いダイナミックレンジ出力,直感的なデジタルタッチ操作を統合するように設計された高性能試験機器です.5インチタッチスクリーンでスマートフォンのようなシンプルさP200は,低電圧マイクロ電子機器を高電圧電源装置にテストするのに理想的です.半導体の特徴を特定するための多用なツールとして機能しますナノ材料,有機電子,印刷電子,その他の小規模で低電力部品 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因精度と信頼性先進的な測定技術により,1pAから10Aまでのパルス電流の精度が確保され,重要な... もっと見る
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中国 30V 1A 10A P100 ソースメーター 四四角操作 パルスソースメーター 販売のため

30V 1A 10A P100 ソースメーター 四四角操作 パルスソースメーター

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:P100 ソースメーター, 30V 1A 10A ソースメーター, クアダント操作 パルス源計
30V 1A 10A P100 ソースメーター 四四角操作 パルスソースメーター P100ベンチトップパルスソースメーターは,高性能試験機器で,精度測定,高ダイナミックレンジ出力,直感的なデジタルタッチ操作を統合しています.最大出力30Vと10A (パルスモード)半導体,ナノテクノロジー,有機材料など,進化する需要に応えるための4つの四角関数操作をサポートします.P100は技術革新を推進する強力なテスト能力を持つエンジニアと研究者に力を与えます. 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因業界トップの精度とダイナミックレンジ:超低電流測定と10Aパルス電流出力に対して1pA解像度を達成し,低電源デバイス... もっと見る
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中国 半導体精密源測定装置 S300B 300V 3A DC源メーター 販売のため

半導体精密源測定装置 S300B 300V 3A DC源メーター

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:半導体精密源測定単位, S300B 精密源測定単位, 300V 3A DC ソース メーター
半導体精密源測定装置 S300B 300V 3A DC源メーター S300B ソースメーターは 最先端で高性能な試験器具で デジタルタッチ技術を統合して 連続的な操作を可能にします 最大出力は 300V 3A超敏感な電流解像度10pAまで複合的な電気的特徴付けのための比類のない汎用性を提供します.その4つの四角形の操作は,半導体 (ICs,ダイオードS300Bは,革新を推進する産業向けに設計され,研究開発を加速させるための重要なデータを提供します.品質保証そして次世代の技術開発です 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因実験用精度:先進的な測定アルゴリズムと精密回路は,電圧/電流の精度 ±0.03%... もっと見る
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中国 S200 高精度 100V 1A SMU 電気性能試験用 販売のため

S200 高精度 100V 1A SMU 電気性能試験用

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:100V 1A SMU ユニット, S200 高精度源測定装置, 総合的な電気特性 SMU ユニット
S200 高精度 100V 1A SMU 電気性能試験用 S200 ソース メーザーユニットは,長年の技術的な専門知識とPRECISE INSTRUMENTの研究開発の成果の結末であり,国内で生産された先駆的なソースメーターとして注目されています.卓越した性能でこの高度な統合装置は,精密な測定能力と電圧と電流入力/出力を組み合わせています.高度な精度で電気特性試験の様々なニーズに信頼性の高いソリューションを提供します. 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因究極の精度低電流と高阻力試験のシナリオでは,高精度測定能力が顕著で,正確で誤りのないデータ取得を保証します.▪ 病気 の 原因機能的統合電圧源,... もっと見る
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中国 S300 DC SMU 源測定装置 300V 1A 電気特性試験用 販売のため

S300 DC SMU 源測定装置 300V 1A 電気特性試験用

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:S300 DC SMU ソース測定単位, 300V 1A SMU ソース測定単位, 電気特性試験源計
S300 DC SMU 源測定装置 300V 1A 電気特性試験用 S300ソース測定装置は,PRECISE INSTRUMENTが長年にわたって開発した高精度,幅広い動力範囲,デジタルインタラクティブで国内で生産されたソースメーターです.電圧や電流の入力/出力,測定など,複数の機能を統合しています.最大出力電圧300V,最大出力電流1A,最小試験電流解像度10pAで,四四段動作をサポートします.様々な電気特性試験と分析に広く適用される半導体IC,部品,電源装置,センサー,有機材料,ナノ材料を含む. 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因高精度測定:高精度な電圧と電流の測定を提供し,低電流と高阻力試... もっと見る
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中国 30V 3A 高精度ソース測定ユニット S100B DC SMU ユニット半導体試験 販売のため

30V 3A 高精度ソース測定ユニット S100B DC SMU ユニット半導体試験

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:高精度源測定単位, 30V 3A 精密源測定単位, DC S100B SMU ユニット
30V 3A 高精度ソース測定ユニット S100B DC SMU ユニット半導体試験 S100B ソース測定装置は 電気テストの専門家として すべてを1つにしており 精密な測定能力を持つ 圧力と電流の入力/出力をシームレスに統合しています先進的なデジタルタッチ技術スマートフォンのように簡単で便利です. 画面のタッチだけで複雑なテストタスクを完了することを想像してください. 最大出力電圧は30Vです.最大出力電流3A試験電流の最小解像度は10pA以下で,その優れた性能により,幅広い電気特性試験に適しています.4つの四角形操作をサポートします半導体IC,コンポーネント,電源装置,センサー,有機物質... もっと見る
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中国 S200B DCソースメーター 100V 3A半導体測定装置 販売のため

S200B DCソースメーター 100V 3A半導体測定装置

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:100V 3A 半導体測定装置, S200B DC ソース メーター, 100V 3A DC 源メーター
S200B DCソースメーター 100V 3A半導体測定装置 S200Bは,電圧と電流の入力/出力を統合し,正確な測定能力を備えた汎用的で強力な試験機器です.先進的なデジタルタッチインタラクション技術最大出力電圧は100V,最大出力電流は3A,最小試験電流解像度は10pA以下で,S200Bは特殊な感度を示している独特の4つの四面体操作モードにより,様々な複雑な電気条件のシミュレーションが可能になり,電気特性試験に包括的なサポートを提供します.半導体IC用のものでもS200Bは,詳細なテストと分析を行い,研究と生産のための重要なデータサポートを提供します. 製品の特徴 ▪ 病気 の 原因高精度... もっと見る
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中国 100V 100A SMU測定装置 高電流パルスソースメーター HCP300 IGBT用 販売のため

100V 100A SMU測定装置 高電流パルスソースメーター HCP300 IGBT用

価格: Negotiable
MOQ: 1 unit
納期: 2-8 weeks
ブランド: PRECISE INSTRUMENT
ハイライト:100V 100A SMU 測定装置, 高電流パルスソースメーター, IGBT SMU 測定装置
100V 100A SMU測定装置 高電流パルスソースメーター HCP300 IGBT用 HCP300高電流デスクトップパルス源測定装置は,最大パルス出力電流100Aと最大出力電圧100Vで4つの四角操作をサポートします.測定精度は0.1%までです.太陽電池モジュールとRFデバイスをテストするのに非常に適しています.   製品の特徴 ▪ 病気 の 原因250k サンプリングレートと 100A パルス範囲は,RFデバイスや太陽電池モジュールなどの高電流および高電力デバイスのテストに特に適しています. ▪ 病気 の 原因半導体の電気性能テストソリューションを簡単に構築し,普遍的で標準化された,弱い... もっと見る
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